Die Flicker-Norm [2] schreibt vor, dass das Gerät während des Tests in der Weise betrieben wird, wie es bezüglich Flicker am ungünstigsten ist («worst case»).
Wird das Gerät während der gesamten Messdauer (relativ) gleich bleibend betrieben, so gilt Plt = Pst. Falls dieser Zustand für das Gerät zulässig und realistisch ist, ergibt sich als Konsequenz, dass zur Erfüllung der Norm Pst nicht über dem Plt-Grenzwert liegen darf (welcher tiefer ist!).
Eine rein analytische Berechnung von Pst ist nahezu unmöglich, daher haben wir FlickerSim entwickelt und stellen ihn Open-Source zur Verfügung.
Im Standard [2] sind jedoch Formeln zur ersten Abschätzung der zu erwartende Pst-Werte angegeben:
n = Anzahl Last-Änderungen im Beobachtungsintervall
Tp = Dauer des Beobachtungintervalls in Sekunden
F = shape factor (1 für rechteckige Spannungs-Änderungen)
d = relative Spannungs-Änderung dU / U
In [2] sind auch Shape Faktoren für verschiedene Kurvenformen angegeben.
Flicker ist einer der am meisten unterschätzten EMV-Sparten, vor allem da Flicker sich auf das ganze System, d.h. hardware und Software auswirken kann.
Wir entwickeln Elektronik und Systeme von Anfang an unter Berücksichtigung von Flicker.
Patrik Jourdan
Haben Sie zusätzliche Fragen? Haben Sie eine andere Meinung? Wenn ja, mailen Sie mir oder kommentieren Sie Ihre Gedanken unten!
| [1] | IEC 61000-4-15, Testing and measurement techniques – Flickermeter – Functional and design specifications, Edition 1.1, 2003-03 |
| [2] | IEC 61000-3-3, Limits – Limitation of voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems, for equipment with rated current 16 A per phase and not subject to conditional connection, Edition 2.0, 2008-06 |
| [3] | Wikipedia: Flicker |
| [4] | Wilhelm Mombauer: «Messung von Spannungsschwankungen und Flickern mit dem IEC-Flickermeter», ISBN 3-8007-2525-8, VDE-Verlag |
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